9月16日，科技集團聯(lián)合Chroma中茂電子(深圳)有限公司在廈門“芯火”雙創(chuàng)基地（平臺）集成電路人才實訓基地舉辦ATE測試解決方案研討會，研討會共吸引近二十家集成電路企業(yè)工程師和廈門大學等高校在內的在校師生參加。

  隨著芯片復雜度的提高，測試方案的多樣化，測試成本的與日俱增，Chroma推出ATE測試解決方案，提供各應用場景的完整測試，以滿足客戶的各種需求。此次研討會重點分享了Chroma 公司在MCU、高端SOC，以及PMIC測試領先的技術和解決方案。講師通過實際案例分析及分享，為工程師在后續(xù)測試中能有效降低測試成本提供了最佳的技術方案。